還在被導通 / 絕緣電阻測試難題困擾？阻值數據漂移不準、單機單測效率低下、現場電磁與溫場干擾偏大、多批次樣品檢測耗時長？華測儀器 Huace DT-L3 導通絕緣電阻測試系統提供測試新方案。

設備標配四端子測試架構，減少測試引線損耗、端子接觸電阻帶來的測量偏差；導通測微歐級高準度，分辨率可達100μΩ，絕緣端可準確捕獲 pA~fA 量級微弱漏電流，直流測試架構抗工頻、空間雜波干擾能力出眾，惡劣工況數據依舊穩定可靠。硬件搭載標準128通道并行測試，通道數量按需靈活擴容，大批量試樣同步導通 + 絕緣一站式并行檢測，減少測試工時；配套自研 Huacepro 智能測控軟件，全流程自定義測試方案、參數閾值、判定標準，測試數據自動歸檔存儲，意外斷電數據完整留存不丟失。 可搭配高低溫試驗箱，準確控溫模擬，從低溫至高溫全工況服役環境，減少溫度變化對阻值的影響，實現溫變環境下導通、絕緣特性連續溯源測試。

普遍適配印刷電路板通孔導通評估、BGA焊料連接性評估、開關、繼電器等各種接觸電阻評估、芯片電容器接合可靠性評估等多領域品質檢測需求。