絕緣材料測(cè)試儀器_第(17)頁(yè)-北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

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絕緣材料測(cè)試儀器

表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái) 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) 電熱老化罐真空電熱老化測(cè)試系統(tǒng) 高阻計(jì) 擊穿電壓測(cè)定儀表面體積電阻率測(cè)試儀耐電弧測(cè)試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測(cè)試儀高溫直流測(cè)試系統(tǒng)

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絕緣材料耐電弧試驗(yàn)機(jī)設(shè)備*HCDH-III

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HCTZ-2S自動(dòng)修正手持式四探針測(cè)試儀器

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自動(dòng)修正手持式四探針測(cè)試儀器可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽(yáng)能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量，USB接口可為用戶(hù)提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場(chǎng)合對(duì)元器件進(jìn)行檢測(cè)，又可隨身攜帶以滿足測(cè)試人員的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試要求。
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型號(hào)：HCTZ-2S

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液晶顯示手持式四探針測(cè)試儀器，可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽(yáng)能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量，USB接口可為用戶(hù)提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場(chǎng)合對(duì)元器件進(jìn)行檢測(cè)，又可隨身攜帶以滿足測(cè)試人員的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試要求。
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