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半導體參數測試儀與MM探針臺/系統集成
更新時間:
2023-08-28
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半導體參數測試儀與MM探針臺/系統集成支持二極管、三極管、MOS管等半導體器件以及材料的直流電流-電壓(I-V)測量,準靜態和中頻電容-電壓(C-V)測量,時域測量等。
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