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簡要描述：華測儀器HCCT-40H電容器溫度特性測試系統(tǒng)是將環(huán)境試驗箱與評估系統(tǒng)相結(jié)合，效率采集數(shù)據(jù)的自動化多通道系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號：HCCT-40H廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2026-03-26訪 問 量：478產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
HCCT-40H電容器溫度特性測試系統(tǒng)
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師
HCCT-40H電容器溫度特性測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，系統(tǒng)通過準確控制溫度環(huán)境，并測量電容器在不同溫度下的關鍵參數(shù)（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數(shù)值），從而評估其溫度特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。
產(chǎn)品參數(shù)
測量項目：電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)
測試方法：溫度特性評價試驗
恒定運行檢測
頻率特性評價試驗
通道配置：8通道（標準）；至多64通道可擴展8通道增量
測量方法：交流四端對測量
測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz
電容量(C)：50 pF ~ 5 mF
損失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999
阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ
直流偏壓：0 ~ ±40V
溫度測量間隔：1 ℃
掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成
頻率步長：201步（范圍可定制）
補償：短時補償，開放補償
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