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產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
華測儀器HCCT-40H多通道電容溫頻特性評估系統
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
HCCT-40H多通道電容溫頻特性評估系統由華測儀器生產，系統通過準確控制溫度環境，并測量電容器在不同溫度下的關鍵參數（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數值），從而評估其溫度特性。該系統穩定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。
產品優勢
至多64個通道的自動測量
可以測量不同溫度環境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選8個通道的倍數，至多64通道。
圖形功能允許實時查看測量結果
收集的數據，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過圖形函數進行審查。
產品參數
測量項目：電容量 (C)、損耗系數 (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)
通道配置：8通道（標準）；至多64通道可擴展8通道增量
測量方法：交流四端對測量
測量范圍：測量頻率：20Hz~1MHz
電容量(C)：50pF~5mF
損失因子(D)：0.00001~9.99999
阻抗(Z)：0.00001Ω~99.9999MΩ
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