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產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
華測儀器HCCT-40H電容器溫度 - 頻率特性評估系統
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
HCCT-40H電容器溫度 - 頻率特性評估系統由華測儀器生產，是將環境試驗箱與評估系統相結合，效率采集數據的自動化多通道系統。儀器自動評估高溫和高溫/高濕環境下電容器的絕緣退化特性。該系統穩定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等多種類型的電容器。
產品優勢
1、可從不同測試模式選擇
溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試結合。
溫度特性評估測試：在此測試模式下，自動記錄特性數據，與溫度變化同步，頻率步數201步（范圍可定制）；
持續運行測試：測試模式測量以下參數的變化特定中隨時間推移的特征自動記錄數據；
頻率特性評價試驗：試驗模式在特定溫度環境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數據。
2、多種可選夾具適用于不同的試驗樣本（可選）
除了SMD組件的夾具外，根據提供離散設備形狀定制的夾具。
產品參數
測量方法：交流四端對測量
直流偏壓：0~±40V
溫度測量間隔：1 ℃
掃描周期：64通道可在1min之內完成
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