華測儀器SIR-450半導(dǎo)體材料高低溫絕緣電阻率測試系統(tǒng)

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SIR-450半導(dǎo)體材料高低溫絕緣電阻率測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，介質(zhì)樣品暴露在高電場強度和高溫環(huán)境下，在這種情況下，高分子聚合物材料在高溫環(huán)境下具有負阻性的特征，電阻（率）隨著溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關(guān)性表明，隨著溫度的上升電阻率越下降嚴重，而HTRB性能越差，因此，材料的電阻率是HTRB失效測量的一個測量手段。

產(chǎn)品參數(shù)

溫度范圍：-100~350°C

控溫精度：0.5°C

升溫斜率：10℃/min（可設(shè)定）

電阻率：1×10³Ω~1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

測試功能：高低溫電阻率

應(yīng)用領(lǐng)域

電子元器件：在電子產(chǎn)品中，電容器、電阻器、半導(dǎo)體器件等需要在不同溫度下進行試驗，評估其性能和可靠性

新能源材料：對于新能源材料如鋰電池和太陽能電池，高低溫試驗尤為重要

汽車零部件：汽車零部件需在不同的氣候條件下進行試驗，評估其耐用性和可靠性

半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的電阻率測試在高低溫條件下進行，可用于測量硅（Si）、鍺（Ge）等材料的電阻率