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| 品牌 | 華測儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
Huace-LHD系列多物理場多通道長期老化試驗平臺
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
Huace-LHD系列多物理場多通道長期老化試驗平臺由華測儀器生產，能夠模擬多種工業制品、零部件以及原材料的實際生產、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、加速溫度變化、溫度循環等環境因素的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和可靠性，可進行連續試驗，高能簡便地評估因老化腐蝕現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。
產品參數
Huace-LHD-4
通道數：4ch（至大25ch）
電源規格：3相5線制AC 380V±10% 50Hz
散熱方式：采用PWM調速風機、風冷
被測物：標準樣材、異形件（夾取方式）
電源類型：直流
電源輸出范圍：電壓：0~1kV
電流：0~1A
功率：1200W
電源調解率：電壓：0.1%F.S
設定精度：電壓：0.1%F.S
Huace-LHD-8
通道數：8ch（至大40ch）
輸出電源類型：直流/交流
劣化分析：電流采集：1pA~20mA
測量精度：1％
測試時間：10s/1ch(可設置)
電源輸出范圍：電壓：5kV~20kV （可定制）
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