華測儀器Huace TEC-150TEC(帕爾貼)冷熱臺

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Huace TEC-150TEC(帕爾貼)冷熱臺由華測儀器生產，利用半導體熱電轉換特性為樣品提供可控高低溫環境，支持與顯微鏡、光譜儀等光學設備聯用，實現變溫過程中原位光學觀測與性能測試。無需制冷劑、無機械運動部件，解決傳統制冷設備振動、需耗材、控溫響應慢等問題，適用于對環境穩定性要求高的測試場景。

主要技術指標

設備型號：Huace TEC-150

冷熱方式：TEC (帕爾貼)

溫度范圍：-40℃~150℃

溫度穩定性：± 0.1℃

升溫速率：0~30℃/min (可定點/程序段控溫)

降溫速率：0~30℃/min (可定點/程序段控溫)

載樣臺材質：銅

載樣臺尺寸：40mm×40mm

光路：反射/透射 (可選配)

透射光路直徑：Φ2mm (可選配)

腔室：無 (開放式)

選配：定制水循環系統、定制軟件控溫系統等

應用領域

材料科學

相變、熱膨脹、熱電性能研究

半導體與電子器件

溫控特性測試

光學與光譜學

拉曼、熒光、紅外光譜原位變溫測試

化學與催化反應

變溫反應過程觀測

教學與工業檢測

溫控環境下的質量檢測