標準設備_第(2)頁-北京華測試驗儀器有限公司

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標準設備

電壓擊穿測試儀耐電弧試驗儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計）電弱點試驗儀 50點耐壓測試儀

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HCRD-300L寬幅隔膜絕緣弱點檢測儀

更新時間：2026-06-24

型號：HCRD-300L

瀏覽量：173

華測儀器HCRD-300L寬幅隔膜絕緣弱點檢測儀測試寬度可根據用戶的要求而設定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結果的影響。
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HCRD-300L電容器薄膜電弱點測試儀

更新時間：2026-06-24

型號：HCRD-300L

瀏覽量：155

華測儀器HCRD-300L電容器薄膜電弱點測試儀具有可靠性、耐用性和穩定性，測試過程采用電子技術全自動控制，遇到電弱點時電壓切斷動作迅速。
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HCLD-2絕緣材料漏電起痕測試儀

更新時間：2026-06-12

型號：HCLD-2

瀏覽量：220

華測儀器HCLD-2絕緣材料漏電起痕測試儀電痕化是指固體絕緣材料在電應力和電解雜質的聯合作用下，在表面（或內部）產生導電通道。
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HCLD-2固體絕緣材料低壓耐電痕測試裝置

更新時間：2026-06-12

型號：HCLD-2

瀏覽量：209

華測儀器HCLD-2固體絕緣材料低壓耐電痕測試裝置是根據耐漏電起痕試驗（電痕化指數試驗）的標準，規定的模擬仿真試驗項目。
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Huace-300全自動表面體積絕緣電阻檢測儀

更新時間：2026-06-10

型號：Huace-300

瀏覽量：212

華測儀器Huace-300全自動表面體積絕緣電阻檢測儀采用低溫漂系數極低的電阻，既可測量高電阻，又可測微電流。
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Huace-300絕緣材料表面體積電阻測定儀

更新時間：2026-06-10

型號：Huace-300

瀏覽量：207

華測儀器Huace-300絕緣材料表面體積電阻測定儀采用低溫漂系數極低的電阻，既可測量高電阻，又可測微電流。
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HCLD-2CTI 絕緣材料低壓漏電起痕測試系統

更新時間：2026-05-09

型號：HCLD-2

瀏覽量：373

華測儀器HCLD-2 CTI 絕緣材料低壓漏電起痕測試系統用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質聯合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數 (CTI) 和耐電痕化指數(PTI) 。
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Huace-300防靜電材料表面電阻率測試儀

更新時間：2026-04-27

型號：Huace-300

瀏覽量：541

華測儀器Huace-300防靜電材料表面電阻率測試儀采用低溫漂系數極低的電阻，既可測量高電阻，又可測微電流。
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