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詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
華測儀器HCLD-2塑料漏電起痕老化試驗設備
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
HCLD-2塑料漏電起痕老化試驗設備由華測儀器生產，HCLD-2低壓漏電起痕試驗儀由華測儀器生產是根據耐漏電起痕試驗（電痕化指數試驗）的標準，規定的模擬仿真試驗項目。用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質聯合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數 (CTI) 和耐電痕化指數(PTI) 。電痕化是指固體絕緣材料在電應力和電解雜質的聯合作用下，在表面（或內部）產生導電通道。
設備軟件
采用高度集成化設計，內置智能測試軟件，操作簡單，具備試驗穩定性，并有斷電資料保存功能，可實現數據圖像的保存恢復，支持多種測試標準。
產品參數
試驗電壓：100V~1000V（可定制）
控制方式：12寸觸摸屏控制系統
滴液高度：30~40mm 連續可調
試驗電壓壓降：≤5%
電極距離：4.0mm±0.1mm，夾角 60°±5
電極壓力：1.0±0.05N(可調)
滴液間隔時間：1s~999s
短接電流：1A
滴液大小：（20.0~23.0）mm3連續可調
試驗終止：50滴或100滴或漏電流≥0.5A并維持時間≥2s
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